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- 1、光學測厚儀
光學測厚儀
1、Ametek（阿美特克）甘肅成像式色差儀成本價：美國品牌甘肅成像式色差儀成本價，提供包括在線和離線類型在內(nèi)的各種類型的測厚儀甘肅成像式色差儀成本價，滿足不同用戶的需求。Flir（費勒爾）：美國品牌，其紅外測厚儀非常著名，適用于需要非接觸式測量的場景。ZEISS（蔡司）：德國品牌，以其出色的光學測厚儀而聞名，適用于對精度要求極高的測量任務。
2、光學薄膜測厚儀的核心技術介紹和原理說明：SpectraThick系列的特點在于其非接觸式、非破壞性的測量方式，無需對樣品進行任何預處理。該系列儀器支持Windows操作系統(tǒng)，操作簡便。ST系列專門用于測量wafer、glass等基片上形成的氧化膜、氮化膜、光刻膠等非金屬薄膜的厚度。
3、厚度儀：這是專門用于測量厚度的儀器，根據(jù)工作原理不同有超聲厚度儀、磁性厚度儀等。超聲厚度儀通過超聲波在材料中的傳播時間來測量厚度，可測各種材料；磁性厚度儀適用于測量磁性基體上非磁性涂層的厚度。
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